Struktury komputerowych systemów pomiarowych 0800-SKSP

Treść wykładu:
1. Wprowadzenie do pomiarów. Rodzaje eksperymentów fizycznych. Konfiguracja i struktura systemu pomiarowego,
2. Prosty model komputerowego systemu pomiarowego, przykładowe konstrukcje komputerów,
3. Systemy pomiarowo-testujące i pomiarowo-diagnostyczne,
4. Podsystemy współczesnych komputerowych systemów pomiarowych, pojecia interfejsu i systemu interfejsu,
5. Struktury logiczne i fizyczne systemów interfejsu,
6. Architektury współczesnych komputerów, magistrale ISA, PCI,
7. Zasilanie komputerowych układów pomiarowych,
8. Przetworniki analogowo-cyfrowe, rodzaje i parametry,
9. Współczesne karty pmiarowe,
10. Współpraca przetwornika A/C z komputerem,
11. Zakresy stosowalności cyfrowych systemów zliczających. Wybrane systemy pomiarowe w fizyce (pomiary czasów życia luminoforów, spektrometria masowa).

Laboratorium:

Studenci w grupach 2, 3 osobowych proponują schemat prostego układu pomiarowego (temperatury, natężenia oświetlenia). Kolejnym etapem jest wykonanie obwodu drukowanego i zmontowanie układu a następnie sprawdzenie poprawności jego działania. W trakcie zajęć wykorzystywane są moduły NI oraz oprogramowanie LabView. Studenci dokumentują swoją pracę i prezentują jej przebieg i efekty w formie prezentacji końcowej.

Całkowity nakład pracy studenta

Godziny realizowane z udziałem nauczycieli ( 80 godz.): - udział w wykładach – 30 godz. - udział w laboratoriach – 30 godz. - konsultacje lub poprawy – 20 godz. Czas poświęcony na pracę indywidualną studenta (70 godz.): - przygotowanie do wykładu – 10 godz. - przygotowanie do laboratorium – 40 godz. - przygotowanie do egzaminu – 20 godz. Łącznie: 150 godz. (6 ECTS)

Efekty uczenia się - wiedza

W1 - posiada wiedzę pozwalającą na zdefiniowanie pomiaru i struktury systemu pomiarowego - K_W01, K_W06 dla FT W2 - ma uporządkowaną wiedzę dotyczącą modeli systemów pomiarowych (systemy pomiarowo-testujące i pomiarowo-diagnostyczne) - K_W03 dla FT W3 - posiada wiedzę na temat podzespołów typowego komputerowego systemu pomiarowego (czujniki, układy kondycjonujące, interfejsy, magistrale) - K_W03 dla FT W4 - posiada wiedzę o przetwornikach A/C (rodzaje, współpraca z komputerem) - K_W06 dla FT W5 -posiada wiedzę na temat zastosowań praktycznych komputerowych systemów pomiarowych (pomiary czasów życia luminoforów, spektrometria masowa) - K_W01 dla FT

Efekty uczenia się - umiejętności

U1 - posiada umiejętność samodzielnego zaprojektowania i wykonania prostego systemu pomiarowego oraz analizy jego działania - K_U03, K_U05, K_U07 dla FT U2 - potrafi wykonać prosty prototypowy obwód drukowany metodą termotransferu - K_U05, K_U06 dla FT U3 - potrafi zmontować i uruchomić prosty układ analogowo-cyfrowy - K_U05 dla FT U4 - posiada umiejętność wykonania pomiarów podstawowych parametrów wykonanego układu - K_U05 dla FT U5 - potrafi wykorzystać czujniki (termistor, fotorezystor) w celu wykonania prostych pomiarów - K_U05 dla FT U6 - posiada umiejętność połączenia układów modułowych w celu stworzenia prostego układu pomiarowego - K_U013, K_U05 dla FT

Efekty uczenia się - kompetencje społeczne

K1 - zna i rozumie aspekty praktycznego zastosowania systemów pomiarowych w nauce i przemyśle - K_K01, K_K02 dla FT

Metody dydaktyczne

- wykład informacyjny (konwencjonalny) - wykład konwersatoryjny - wykład problemowy

Metody dydaktyczne eksponujące

- pokaz

Metody dydaktyczne podające

- wykład problemowy
- wykład informacyjny (konwencjonalny)
- wykład konwersatoryjny

Metody dydaktyczne poszukujące

- laboratoryjna
- giełda pomysłów
- projektu
- ćwiczeniowa

Metody dydaktyczne w kształceniu online

- metody ewaluacyjne

Rodzaj przedmiotu

przedmiot obligatoryjny

Wymagania wstępne

Znajomość podstaw elektroniki na poziomie szkoły średniej, znajomość treści zawartych w wykładzie podstawy techniki komputerowej, kurs LabVIEW.

Koordynatorzy przedmiotu

Przemysław Płóciennik

Kryteria oceniania

Metody oceniania:
egzamin pisemny - W1, W2, W3, W4, W5,
zaliczenie na ocenę - U1, U2, U3, U4, U5, U6, K1

Kryteria oceniania:
Wykład: egzamin pisemny lub test w systemie e-learningowym - test (pytania wielokrotnego wyboru, pytania otwarte)
ndst <60%
dst [60% - 70%)
dst plus [70% - 80%)
db [80% - 85%)
db plus [85% - 90%)
bdb [90% -100%]
Warunkiem przystąpienia do egzaminu jest pozytywna ocena z laboratorium.

Laboratorium: zaliczenie na ocenę na podstawie prezentacji końcowej oraz aktywności na zajęciach
Na ocenę końcową składają się:
- ocena prezentacji końcowej
- aktywność na zajęciach (+ 1 - 3 pkt)
Kryteria oceny prezentacji końcowej:
- zawartość merytoryczna (zgodna z tematem; dostosowana do możliwości odbiorców i potencjału tematu 0-3
- język prezentacji (fachowa terminologia, poprawność językowa) 0-3
- zwięzłość (krótkie zdania, równoważniki zdań, hasła→ sedno) 0-3
- czytelność (wielkość czcionki, układ, tempo wyświetlania) 0-3
- estetyka (kolor, grafika, animacje, dźwięk) 0-3
- staranność 0-3
- czas prezentacji (wykorzystanie zaplanowanego czasu) 0-3
- innowacyjność (praca przyciągająca uwagę, pomysłowa, niekonwencjonalna) 0-3
Skala ocen (suma punktów za aktywność i prezentację końcową):
ndst <12
dst [13-14)
dst plus [15 -16)
db [17 -19]
db plus [20 - 21]
bdb [22 - 27]

Praktyki zawodowe

Nie dotyczy

Literatura

1. W. Nawrocki, Rozproszone systemy pomiarowe, Warszawa, 2006, WKŁ,
2. D. Świsulski, Komputerowa technika pomiarowa, Warszawa, 2005, Agenda Wydawnicza PAK-u,
3. W. Nawrocki, Komputerowe systemy pomiarowe, Warszawa, 2006, WKŁ,
4. W. Tłaczała, Środowisko LabView w eksperymencie wspomaganym komputerowo, Warszawa, 2002, WNT

Więcej informacji

Dodatkowe informacje (np. o kalendarzu rejestracji, prowadzących zajęcia, lokalizacji i terminach zajęć) mogą być dostępne w serwisie USOSweb:

Strona przedmiotu 0800-SKSP w USOSweb