Pracownia technologii i inżynierii materiałowej 0800-PTIMAT
Tematy ćwiczeń:
1. Technologia cienkich warstw i nanostruktur:
a. struktury półprzewodnikowe (złącze p-n) oraz izolator – półprzewodnik (I-S),
b. metoda naparowywania próżniowego,
c. dip-coating.
2. Wykonywanie kontaktów w nanostrukturach i ich badanie:
a. struktury metal -półprzewodnik (M-S) oraz metal -izolator – półprzewodnik (M-I-S),
b. metoda naparowywania kontaktów.
3. Otrzymywanie i obróbka kryształów.
4. Luminescencja cienkich warstw i kryształów:
a. fotoluminescencja I(T),
b. elektroluminescencja I(T),
c. termiczne gaszenie luminescencji.
5 Fotoprzewodnictwo cienkich warstw i kryształów:
a. charakterystyki widmowe,
b. stałe czasowe,
c. wyznaczanie energii pułapek metodą niestacjonarnego przewodnictwa (PICT).
6. Spektroskopia defektów z głębokimi stanami metodami złączowymi:
a. metoda niestacjonarnej pojemności (DLTS),
b. metoda termicznie stymulowanej pojemności.
7. Fotopojemnościowe badanie struktur:
a. zmiana pojemności w funkcji długości fali,
b. wyznaczanie optycznych przekrojów czynnych,
c. zależności C(T) przy różnych oświetleniach.
8. Przewodnictwo zmiennoprądowe:
a. zależności G(f), C(f),
b. zależności G(T), C(T).
9. Wyznaczanie koncentracji i ruchliwości nośników:
a. przewodnictwo stałoprądowe,
b. efekt Halla,
c. efekt foto-Halla.
10. Widma odbicia i transmisji cienkich warstw, struktur wielowarstwowych i kryształów:
a. metody stacjonarne,
b. metody modulacyjne.
11. Badanie półprzewodników w podczerwieni:
a. widma odbicia w podczerwieni,
b. widma transmisji w podczerwieni.
12. Widma wzbudzenia cienkich warstw i kryształów:
13. Optoelektronika pryzmaty sprzężone.
a. wyznaczanie grubości warstw,
b. wyznaczanie współczynnika załamania.
14. Kinetyka luminescencji cienkich warstw i kryształów:
a. czasy zaniku,
b. widma opóźnione w czasie (TRS).
Całkowity nakład pracy studenta
Efekty uczenia się - wiedza
Efekty uczenia się - umiejętności
Efekty uczenia się - kompetencje społeczne
Metody dydaktyczne
Metody dydaktyczne poszukujące
- doświadczeń
- seminaryjna
- laboratoryjna
Metody dydaktyczne w kształceniu online
- metody wymiany i dyskusji
- metody służące prezentacji treści
Wymagania wstępne
Koordynatorzy przedmiotu
Kryteria oceniania
Warunkiem zaliczenia jest
1) wykonanie ustalonej liczby ćwiczeń w semestrze (na jedno ćwiczenie przewidziano 3 zajęcia) i uzyskanie ich zaliczenia na podstawie: zdanej teorii, wykonania części doświadczalnej (wykonanie próbek, dokonanie pomiarów ...), opracowania i interpretacji wyników, analizy błędów,, wykonania i dostarczenia sprawozdania w terminie uzgodnionym z prowadzącym
2) prezentacja w postaci posterowej wyników z jednego (ustalonego z prowadzącym) ćwiczenia z objaśnieniem prezentowanej treści prowadzącym, studentom i zaproszonym gościom. Prezentacja ta odbywa się w ostatnim tygodniu zajęć danego semestru.
Ocena jest ustalana na podstawie ocen cząstkowych z rozmowy wstępnej dopuszczającej do wykonania ćwiczenia, sprawozdań i za prezentację.
Sposób weryfikacji efektów kształcenia:
- rozmowa wstępna dopuszczająca do wykonania zadania (W01, W02, W03, W10)
- sprawozdanie z części praktycznej (W10, U01, U02, U03, K02, K03)
- prezentacja (U07, K02,K03)
Praktyki zawodowe
nie dotyczy
Literatura
1. M. Blicharski – „ Inżynieria materiałowa”
2. A. Zawadzka – „Cienkie warstwy i nanostruktury cienkowarstwowe - eksperymentalne metody wytwarzania i badania właściwości”
3. J. Cieślewska, K. Beliniak - Materiały i technologie
4. C. Kittel - „Wstęp do fizyki ciala stałego”
5. J. Pankove - „Zjawiska optyczne w półprzewodnikach”
6. G. I. Jepifanow - „Fizyczne podstawy mikroelektroniki”
7. T. Figielski - „Zjawiska nierównowagowe w półprzewodnikach”
8. J. Hennel - „Podstawy elektroniki półprzewodnikowej”
9. A. Kawski, A. Kubacki - „Aparatura i metody badań luminescencji”
10. W. Marciniak „Przyrządy półprzewodnikowe i układy scalone” Warszawa WNT 1984r.
11. K. W. Szalimowa „Fizyka półprzewodników” Warszawa PWN 1974r.
12. P. S. Kiriejew „Fizyka półprzewodników” Warszawa PWN 1976r.
13. N. F. Kowtoniuk, J. A. Koncewoj "Pomiary parametrów materiałów półprzewodnikowych" Warszawa PWN 1973r.
14. T. Figielski „Zjawiska nierównowagowe w półprzewodnikach” Warszawa PWN 1980r.
15. M. A. Herman „Heterozłącza półprzewodnikowe” Warszawa PWN 1989r.
16. J.Groszkowski „ Zagadnienia wysokiej próżni”
17. J.Groszkowski „ Technologia wysokiej próżni”
18. A. Oleś „Metody doświadczalne fizyki ciała stałego”
On line:
1. Nishingan, Tatau, editor.; Rudolph, Peter, editor. 2015; 2nd ed.
Handbook of crystal growth. Volume II, Part A, B, Bulk crystal growth: basic techniques and growth mechanisms and dynamics / editor-in-chief, Tatau Nishingan, The University of Tokyo Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo, Japan, volume editor, Peter Rudolph, Crystal Technology Consulting (CTC) Schonefeld, Germany.
2. Nishiga, Tatau, publishing director; Amano, Hiroshi, contributor; Kuech, T. F. 2015; 2nd ed
Thin films and epitaxy / editor-in-chief Tatau Nishiga ; contributors, Hiroshi Amano [and sixty-two others]
3. Binnewies, Michael.; Dolinšek, Janez.; Failamani, Fainan.; Feuerbacher, Michael.; Fisk, Zachary.; Gille, Peter, editor.; Grin, Yuri, editor.; Guo, Quansheng.; Guélou, Gabin.; Hedo, Masato.; Henkie, Zygmunt.; Ipser, Herbert.; Kakihana, Masashi.; Mori, Takao.; Prokofiev, Andrey.; Rosa, Priscila.; Schmidt, Marcus.; Vaney, Jean-Baptiste.; Ōnuki, Yoshichika. 2018
Crystal Growth of Intermetallics / Peter Gille, Yuri Grin
Więcej informacji
Dodatkowe informacje (np. o kalendarzu rejestracji, prowadzących zajęcia, lokalizacji i terminach zajęć) mogą być dostępne w serwisie USOSweb: